1EF64: 60GHz帯における雑音指数測定

Abstract
このアプリケーション・ノートでは、50 GHzから67 GHzのマイクロ波帯におけるアンプの雑音指数やゲインの測定方法について解説しています。具体的には、R&S®FSU67スペクトラム・アナライザと、R&S®FS-K30(雑音指数およびゲイン測定用オプション)、そして米国NoiseCom社製のNC5115-60GまたはNC5115-60GT 雑音指数測定用ノイズ発生器を組み合わせたソリューションをご紹介します。
Last Modified
04.04.2009
File NameVersionLast ModifiedFile Size
1EF64_1E.pdf
Application Note - English version
2   12.05.2009   331 KBytes
1EF64_1J.pdf
アプリケーション・ノート - 日本語版
1   17.05.2010   511 KBytes