R&S®RTE デジタル・オシロスコープ

これまでにないハードウェア性能を実現

概要
Picture R&SRRTE Digital Oscilloscope

 デジタル・オシロスコープ R&S®RTEシリーズは、新しいフロントエンドを搭載し、アナログ性能を大幅に向上させました。 500μV/divをハードウェアで実現する低ノイズフロアで、これまで困難だった微小信号の観測を可能にします。

主な仕様

  • 周波数:200 MHz/ 350 MHz/ 500 MHz/ 1 GHz/ 1.5 GHz/ 2 GHz (各2チャネル/4チャネル・モデル)
  • 最大サンプリングレート: 5 Gサンプル/秒
  • 標準メモリ長:10 Mサンプル (各チャネル)

主な特長

  • 信頼性の高い測定結果
    • 500 μV/div.を帯域制限なしにハードウェアで実現(50Ωカップリング時)
    • 1チャネル最大50Mサンプルのロング・メモリによる高い時間分解能
    • 最大100万回/秒の波形更新レートで、稀な不具合信号をすばやく発見
    • 微小信号への確実なトリガを実現するデジタル・トリガ・システム
    • インタリーブ歪みをなくすシングルコアADCによる高確度な測定
  • 多機能かつ高機能
    • 複雑な解析機能を用いたときでも高速測定
    • QuickMeas: ワンボタンで測定
    • ヒストリー機能: 過去にさかのぼって解析
    • マスク・テスト: 数秒で設定可能
    • FFT 機能: 測定信号のスペクトラム解析を簡単に
  • 使って楽しい
    • 優れたGUIで直感的な操作
    • 高解像度のタッチスクリーン
    • 主要なツールにすばやくアクセス
  • MSOオプションを用いたロジック解析
    • 大容量メモリによる高速サンプリング・レート
    • 信号イベントを確実にトリガ
    • 稀な不具合信号を発見できる高い波形更新レート
    • デジタル・チャネルを用いたシリアル・プロトコル解析
    • アクティブ・プローブによる低負荷の被測定物の測定
  • オシロスコープ1台でEMI評価を実現
    • 革新的なEMI評価測定器としてBest in Design & Test Product Awards受賞
    • 高ダイナミックレンジかつ高感度
    • タイムドメインと周波数ドメインのリンク